新機遇 新挑戰---粒度分析講座邀請
點擊次數：3167 更新時間：2012-05-18
“2012 新機遇 新挑戰”
顆粒特性分析技術講座
顆粒特性分析技術講座
邀請函
由美國貝克曼庫爾特公司主辦的、應用專家Matthew N Rhyner 博士主講的“2012新機遇、新挑戰---顆粒特性分析新技術講座”將于2012 年5月23日上午 9:30 至12:30于中國北京清華大學環境學院舉行。誠邀各界人仕參加。 講座內容：
☆顆粒特性分析技術概況
☆亞微米高分辨率PIDS技術
☆干粉分散的“ 龍卷風”技術
☆ 庫爾特顆粒計數分析技術
☆ 高濃度Zeta電位測量的FST透明電極技術
☆ 固體及薄膜表面ZETA電位測量技術
☆顆粒特性分析技術概況
☆亞微米高分辨率PIDS技術
☆干粉分散的“ 龍卷風”技術
☆ 庫爾特顆粒計數分析技術
☆ 高濃度Zeta電位測量的FST透明電極技術
☆ 固體及薄膜表面ZETA電位測量技術
貝克曼庫爾特商貿（中國）有限公司
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